清空記錄
歷史記錄
取消
清空記錄
歷史記錄
要功能及特點(diǎn)
LCAE LC200P通道量產(chǎn)燒錄測(cè)試工具是由我司自主研發(fā)的一款多通道燒錄加頻偏校準(zhǔn)測(cè)試儀,目前可支持高通,絡(luò)達(dá),恒玄,中科藍(lán)汛等系列芯片并行燒錄+校頻+電流;支持并行頻偏校準(zhǔn)、功率測(cè)試及電流測(cè)試,測(cè)試速度快,時(shí)間在3s/pcs左右,有效助客戶提高產(chǎn)能。
支持設(shè)置校頻范圍,功率范圍;支持藍(lán)牙名稱修改,藍(lán)牙地址修改;支持藍(lán)牙地址遞增及單雙地址遞增;數(shù)據(jù)自動(dòng)保存,便于管控產(chǎn)品質(zhì)量;軟件支持開(kāi)發(fā)定制。
產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)
支持持高通、絡(luò)達(dá)、恒玄、中科藍(lán)汛等系系列芯片
支持并行頻偏校準(zhǔn)和功率測(cè)試,測(cè)試速度快
支持設(shè)置校頻范圍,功率范圍
支持藍(lán)牙名稱修改,藍(lán)牙地址修改
支持藍(lán)牙地址遞增及單雙地址遞增
數(shù)據(jù)自動(dòng)保存,便于管控產(chǎn)品質(zhì)量
支持6或8通道同時(shí)測(cè)試,可支持升級(jí)6通道電流測(cè)試
軟件支持開(kāi)發(fā)定開(kāi)發(fā)
程序燒錄、頻偏校準(zhǔn),頻偏測(cè)試、功率測(cè)試、藍(lán)牙名稱修改、藍(lán)牙地址修改
相關(guān)方案
Related solutions